DM-ANT0880雙脊喇叭天線 饋源測(cè)試方案
2025/5/6 15:48:01 點(diǎn)擊:
1.1.1 測(cè)試設(shè)備
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)(如Keysight PNA系列)
信號(hào)發(fā)生器(1.7GHz-6.0GHz可調(diào))
提供2.7GHz、3.2GHz、3.8GHz單頻激勵(lì)信號(hào)。
頻譜分析儀
監(jiān)測(cè)饋源輸出頻譜,驗(yàn)證帶外抑制及信號(hào)純度。
功率計(jì)
測(cè)量饋源輸入/輸出功率,驗(yàn)證增益平坦度。
標(biāo)準(zhǔn)增益喇叭饋源天線(參考天線)低噪放、 N-SMA轉(zhuǎn)接線纜、 轉(zhuǎn)接頭、 直通頭等
用于輻射方向圖比對(duì)。
4.5米前饋拋物面天線驗(yàn)證饋源安裝匹配性及聚焦性能。
數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)
誤碼率測(cè)試儀(BERT)或示波器,用于數(shù)傳信號(hào)解析。
微波暗室或遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試場(chǎng)地
減少多徑干擾,確保測(cè)試準(zhǔn)確性。
1.1.2 測(cè)試方法與步驟
1. 頻點(diǎn)性能測(cè)試(2.7GHz、3.2GHz、3.8GHz)
步驟1:饋源單獨(dú)連接VNA,測(cè)量S11(反射系數(shù)),要求各頻點(diǎn)S11 ≤ -10 dB(VSWR ≤ 2:1)。
步驟2:測(cè)量S21(傳輸系數(shù)),驗(yàn)證饋源插入損耗(典型值≤ 0.5 dB)。
步驟3:使用信號(hào)發(fā)生器輸入2.7GHz、3.2GHz、3.8GHz單頻信號(hào),通過(guò)頻譜分析儀檢測(cè)輸出信號(hào)功率穩(wěn)定性(波動(dòng)≤ ±0.5 dB)。
2. 拋物面天線安裝匹配測(cè)試
步驟1:將饋源安裝至4.5米拋物面天線焦點(diǎn)處,確保機(jī)械對(duì)準(zhǔn)。
步驟2:通過(guò)VNA測(cè)量整體系統(tǒng)S11,驗(yàn)證天線+饋源聯(lián)合匹配性(S11 ≤ -10 dB)。
步驟3:在遠(yuǎn)場(chǎng)(≥ 2D²/λ,D為天線口徑)放置標(biāo)準(zhǔn)喇叭天線,測(cè)量輻射方向圖,驗(yàn)證主瓣寬度、旁瓣電平(符合設(shè)計(jì)指標(biāo))。
3. 數(shù)傳鏈路驗(yàn)證(可選)
步驟1:在饋源輸入端注入調(diào)制信號(hào)(如QPSK、16APSK),頻點(diǎn)設(shè)為2.7GHz、3.2GHz、3.8GHz。
步驟2:通過(guò)拋物面天線發(fā)射,在接收端解調(diào)并計(jì)算誤碼率(BER ≤ 1×10⁻⁵)。
1.1.3 測(cè)試數(shù)據(jù)及其處理方法
關(guān)鍵數(shù)據(jù)記錄
S11/S21參數(shù)(頻點(diǎn):2.7GHz、3.2GHz、3.8GHz)。
輻射方向圖(E面/H面,主瓣寬度、旁瓣電平)。
輸入/輸出功率及增益平坦度(各頻點(diǎn)差異≤ ±0.5 dB)。
數(shù)傳誤碼率(BER)及調(diào)制誤差率(MER)。
數(shù)據(jù)處理方法
頻點(diǎn)匹配分析:通過(guò)Smith圓圖優(yōu)化阻抗匹配(如S11不達(dá)標(biāo)需調(diào)整饋源結(jié)構(gòu))。
方向圖評(píng)估:對(duì)比理論仿真(如CST、HFSS)與實(shí)際測(cè)量結(jié)果,驗(yàn)證波束指向精度。
合格判定標(biāo)準(zhǔn)
電氣性能:2.7GHz、3.2GHz、3.8GHz頻點(diǎn)S11 ≤ -10 dB,增益波動(dòng)≤ ±0.5 dB。
機(jī)械兼容性:饋源可穩(wěn)固安裝于4.5米拋物面天線焦點(diǎn),且不影響天線展開(kāi)/折收。
輻射特性:主瓣寬度、旁瓣電平符合設(shè)計(jì)要求(如3dB波束寬度≤ 10°)。
備注
校準(zhǔn)要求:VNA需使用SOLT(Short-Open-Load-Thru)校準(zhǔn),頻譜分析儀需用標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源校準(zhǔn)。
環(huán)境控制:測(cè)試應(yīng)在溫度(20±5°C)、濕度(≤60%RH)穩(wěn)定環(huán)境下進(jìn)行。
安全事項(xiàng):高頻輻射需符合EMC標(biāo)準(zhǔn),測(cè)試人員應(yīng)保持安全距離。
此方案可擴(kuò)展至全頻段(1.7GHz-6.0GHz)測(cè)試,僅需增加頻點(diǎn)密度(如每0.5GHz一個(gè)測(cè)試點(diǎn))。
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